紫外輻照計UV-A

簡要描述：紫外輻照計UV-A采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品型號：UV-A
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-03-25
訪問量：3488

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紫外輻照計UV-A

紫外輻照計已取得中華人民共和國制造計量器具許可證和計量器具型式批準證書。

紫外輻照計UV-A執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003－2014。UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

特點

光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術(shù)參數(shù)

項目	參數(shù)	備注
波長范圍λ1，峰值波長λp	（320～400）nm，λ_P＝365nm	配備兩只探頭
波長范圍λ2，峰值波長λp	（375～475）nm，λ_P＝420nm	配備兩只探頭
輻照度測量范圍	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外帶外區(qū)雜光	0.02%
相對示值誤差	±8％（相對于NIM標準）
角度響應特性	±5% （α≤10°）
線性誤差	±1%
換檔誤差	±1%
短期不穩(wěn)定性	±1%（開機30min后）
零值誤差	滿量程的±1%
響應時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA

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